技術原理
透過高穿透照明與高解析顯微光學系統，穿透油墨層，直接觀察導電粒子分布、排列與結合狀態，協助製程開發、品質檢測與良率提升。
- 穿透油墨層觀察 — 直接觀察導電粒子
- 高解析顯微成像 — 清晰呈現粒子分布
- 精準檢測分析 — 提升製程良率
- 非破壞性檢測
檢測示意圖
ACF 貼合檢測：偏光膜與膠層 / 油墨 / 玻璃基板 / 驅動 IC。
- ACF（異方性導電膜）
- 導電膠 / 導電油墨
- 各類封裝材料、面板模組等
設備特色
- 高倍率顯微鏡系統 — 支援明場 / 暗場 / 偏光觀察，精準呈現導電粒子細節
- 高穿透照明技術 — 特殊光源設計，有效穿透油墨層，提高對比與清晰度
- 高解析影像擷取 — 搭配高靈敏度相機，影像清晰穩定，便於分析與記錄
- 影像分析與報告 — 支援影像量測與自動分析，快速生成檢測報告
實際觀察案例
- 表面影像（油墨層）— 表面可見為均勻油墨層，無法直接觀察內部結構。
- 穿透觀察影像 — 成功穿透油墨層，清晰顯示導電粒子分布。
- 高解析放大影像 — 精準辨識導電粒子大小、分布與排列狀態。
應用領域
- LCD / OLED — 顯示面板檢測
- 半導體封裝 — 貼合品質分析
- ABF 基板 — 微孔與導通結構檢測
- TGV 基板 — 高密度檢測
- 光學元件 — 內部潔淨度檢查
- 顯示器模組 — 貼合品質驗證
精準觀察 · 掌握真相 · 提升品質
- 高精準度檢測
- 品質保證
- 良率提升
從挑戰到解決方案
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歡迎與 GENTEN 討論您的製程挑戰，一起探索適合的技術方案。